充分利用测试资源 泰瑞达战略业务发展总监Ken Lanier表示：“DFT长期以来一直是测试经济学的支柱。难点在于将DFT相关故障（尤其是扫描故障）与实际故障关联起来。创建一个涵盖探针、封装和系统级测试（SLT），甚至PCB或模块测试的通用数据库，将会有所帮助。” 器件 资源 dft bist harrison 2025-09-15 10:11 2